当社では、電子機器から発生する不要電磁波（ノイズ）を高精度に測定する、マイクロ波帯EMCスキャナー「MWS-2030」を秋田県産業技術センターと共同開発しました。従来の測定器が苦手としていたマイクロ波帯の電磁界強度分布が測定できる、卓上型のEMCスキャナーです。独自の光変調散乱技術（学会表彰2件、特許取得）を用いた完全非金属プローブ・ワイヤレス測定で、低擾乱（じょうらん）な電磁界分布計測を実現しました。

空間分解能は1mm以下と、これまでにない高精度な計測を実現しています。測定は周囲環境にとらわれず、電波暗室内でなくても容易・迅速にノイズ源を特定できます。高周波高密度実装回路のEMC対策、高周波応用デバイス、アンテナ、その他製品の電磁波の可視化用として、さまざまな応用が可能です。電子機器の開発スピードを上げ、製品品質の向上に役立つ製品となっています。